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Innovations in Thin Films Processing and Characterisation 2011 Nancy

De Wicri Lorraine
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La cinquième édition de la conférence internationale Thin Films Processing and Characterisation (ITFPC), co-organisée par la Société française du vide (SFV) et l'Institut Jean Lamour (IJL), se déroule à Nancy, du 14 au 17 novembre 2011. Conjointement se tient la deuxième édition de Magnetrons, Ion beam processing & Arc Technologies European Conference (MIATEC).

Thèmes de la conférence (en anglais)

  • Thin film growth techniques and processes: physical techniques, chemical techniques, innovative sources and related technologies, multi-layer, supernetworks...
  • Contribution of characterisation techniques to thin film science and engineering: microscopy techniques, spectroscopy techniques, diffraction and diffusion techniques, functional characterisation techniques...
  • Process diagnostics: laser techniques, spectroscopic techniques, electrical diagnostics, mass spectrometry...
  • Modelling and numerical simulation: process modelling, plasma modelling, growth mechanisms, simulation of functional properties, size effects...
  • Applications and functional properties: bioapplications, nanostructuration and size effects, chemical activation, corrosion protection, energy, environment, hard coatings, microelectronics, micromechanisms and microsystems, nanomagnetism, spintronics, optical properties and photonics, sustainable development...
  • Industrial hot topics

Comités

Présidents du comité de programme

Comité scientifique

  • S. Aida, Université Mentouri - Constantine, Constantine, Algérie
  • F. Alvarez, Institut de Physique Gleb Wataghni (IFGW), Université d'État de Campinas, Campinas, Brésil
  • R. Bachelot, Université de Troyes, France
  • R. Boxman, Université de Tel-Aviv, Israël
  • P. Brault, Université d'Orléans, France
  • A. Cavaleiro, Université de Coïmbre, Portugal
  • P. Choquet, Centre de recherche public Gabriel Lippmann, Belvaux, Luxembourg
  • W. Daoud, Univ. Monash, Churchill Victoria, Australie
  • M.P. Delplancke, Univ. Brussels, Belgique
  • A. Djouadi, IMN, Nantes, France
  • C. Dong, Univ. Dalian, Chine
  • A. Fernandez, ICMSE-CSIC, Sevilla, Espagne
  • K. Haenen, Univ. Hasselt, Belgique
  • M. Hecq, Univ. Mons, Belgique
  • R. Jimenez Rioboo, ICMN-CSIC, Madrid, Espagne
  • T. Lamara, ABB, Zürich, Suisse
  • S. Maat, Hitachi, San Jose, États-Unis
  • A. Mamaev, Univ. Tomsk, Russie
  • P. Muller, Univ. Marseille, France
  • C. Nebel, Fraunhofer Institute, Freiburg, Allemagne
  • F. Poncin-Epaillard, Univ. du Maine, Le Mans, France
  • F. Rossi, JRC, Ispra, Italie
  • F. Sanchette, UTBM, Montbéliard, France
  • D. Shtansky, MISA, Moscou, Russie
  • G. Sundararajan, ARCI, Hiderabad, Inde
  • W. Weber, IPCMS, Strasbourg, France

Comité d'orientation

Comité d'organisation

Voir aussi

  • La conférence sur le site de la Société française du vide